艾思荔PCT高壓加速老化試驗機又稱為高壓加速老化試驗機，試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。半導體的測試:較主要是測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路、、等相關(guān)問題。  

PCT高壓加速老化試驗機技術(shù)優(yōu)勢：  
1．高壓加速老化試驗機獨家采用全自動補充水位之功能,試驗永不中斷、  
2．試驗過程的溫度、濕度、壓力，是真正讀取相關(guān)傳感器的讀值來顯示的，而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的，能夠真正掌握實際的試驗過程。  
3．干燥設(shè)計，試驗終止采用電熱干燥設(shè)計確保測試區(qū)(待測品)的干燥，確保穩(wěn)定性。  
4．精準的壓力/溫度對照顯示，完全符合溫濕度壓力對照表要求。  

PCT高壓加速老化試驗機針對JESD22-A102的試驗說明：  
    用來評價非氣密封裝器件在水汽凝結(jié)或飽和水汽環(huán)境下抵御水汽的完整性。樣品在高壓下處于凝結(jié)的、高濕度環(huán)境中，以使水汽進入封裝體內(nèi)，暴露出封裝中的弱點，如分層和金屬化層的腐蝕。該試驗用來評價新的封裝結(jié)構(gòu)或封裝體中材料、設(shè)計的更新。 應該注意，在該試驗中會出現(xiàn)一些與實際應用情況不符的內(nèi)部或外部失效機制。由于吸收的水汽會降低大多數(shù)聚合物材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度，當溫度高于玻璃化轉(zhuǎn)變溫度時，可能會出現(xiàn)非真實的失效模式。  
    外引腳錫短路：封裝體外引腳因濕氣引起之電離效應，會造成離子遷移不正常生長，而導致引腳之間發(fā)生短路現(xiàn)象。 
    濕氣造成封裝體內(nèi)部腐蝕：濕氣經(jīng)過封裝過程所造成的裂傷，將外部的離子污染帶到芯片表面，在經(jīng)過經(jīng)過表面的缺陷如：護層針孔、裂傷、被覆不良處、、等，進入半導體原件里面，造成腐蝕以及漏電流、、等問題，如果有施加偏壓的話故障更容易發(fā)生。  

PCT高壓加速老化試驗機滿足標準：  
1、IEC60068-2-66  
2、JESD22-A102-B  
3、EIAJED4701  
4、EIA/JESD22  
5、GB/T2423、40-1997  

ASLI典型客戶：
◆ 遼寧地震局  ◆ 華南理工大學  ◆ 寧波材料研究所  ◆ 上海涂料技術(shù)研究中心  ◆ 德國TUV駐深圳實驗室  ◆ 四川歐利普照明有限公司  ◆ 深圳比亞迪汽車有限公司  ◆ LG電子（惠州）有限公司  ◆ 廣東賽翡藍寶石科技有限公司  ◆ 中山有信汽車部件制造有限公司  ◆ 信利半導體（汕尾）有限公司

    艾思荔的主營產(chǎn)品有：高壓加速老化試驗機，HAST高度加速壽命試驗機，可程式恒溫恒濕試驗箱、高低溫熱濕試驗箱、步入式恒溫恒濕試驗室、高低溫試驗箱、快速溫變高低溫試驗機、冷熱沖擊試驗箱、溫度沖擊箱、鹽霧試驗機、鹽干濕復合鹽霧試驗機、老化試驗箱、高溫干燥箱、高溫烤箱、UV紫外線耐氣候試驗機、真空烤箱等可靠性環(huán)境試驗設(shè)備以及制程設(shè)備，有數(shù)十個系列近百種產(chǎn)品。   

    確保質(zhì)量是艾思荔生存的前提和發(fā)展的保證。艾思荔只有提供滿足客戶需求的優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品和服務，才能在激烈競爭中贏得市場，贏得客戶，為公司贏得更大的發(fā)展空間。更多艾思荔檢測儀器高壓加速老化試驗機相關(guān)詳情請聯(lián)系我們或點擊瀏覽我們的網(wǎng)站。